Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A New Scan Architecture for Both Low Power Testing and Test Volume Compression Under SOC Test Environment Kim, Hong-Sik
 2008
 24 4 p. 365-378
 artikel
2 A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction Badereddine, N.
 2007
 24 4 p. 353-364
 artikel
3 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2008
 24 4 p. 321
 artikel
4 Guest Editorial Nicolici, Nicola
 2008
 24 4 p. 325-326
 artikel
5 Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing Wen, Xiaoqing
 2007
 24 4 p. 379-391
 artikel
6 On Composite Leakage Current Maximization Rastogi, Ashesh
 2007
 24 4 p. 405-420
 artikel
7 Scan Division Algorithm for Shift and Capture Power Reduction for At-Speed Test Using Skewed-Load Test Application Strategy Ko, Ho Fai
 2007
 24 4 p. 393-403
 artikel
8 Scan-in and Scan-out Transition Co-optimization Through Modelling Generalized Serial Transformations Sinanoglu, Ozgur
 2007
 24 4 p. 335-351
 artikel
9 Scan Shift Power Reduction by Freezing Power Sensitive Scan Cells Lin, Xijiang
 2007
 24 4 p. 327-334
 artikel
10 Test Technology Newsletter August 2008 2008
 24 4 p. 323-324
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland