|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A New Scan Architecture for Both Low Power Testing and Test Volume Compression Under SOC Test Environment |
| Auteur: |
Kim, Hong-Sik Kang, Sungho Hsiao, Michael S. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2008) nr. 4 pagina's 365-378 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |