|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Scan Division Algorithm for Shift and Capture Power Reduction for At-Speed Test Using Skewed-Load Test Application Strategy |
| Auteur: |
Ko, Ho Fai Nicolici, Nicola |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 4 pagina's 393-403 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |