|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A Selective Scan Slice Encoding Technique for Test Data Volume and Test Power Reduction |
| Auteur: |
Badereddine, N. Wang, Z. Girard, P. Chakrabarty, K. Virazel, A. Pravossoudovitch, S. Landrault, C. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 4 pagina's 353-364 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |