|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing |
| Auteur: |
Wen, Xiaoqing Miyase, Kohei Suzuki, Tatsuya Kajihara, Seiji Wang, Laung-Terng Saluja, Kewal K. Kinoshita, Kozo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 4 pagina's 379-391 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |