Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             18 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Built-in Self-Test Scheme with Diagnostics Support for Embedded SRAM Chih-Wea Wang
 2002
 18 6 p. 637-647
11 p.
 artikel
2 A Built-in Self-Test Scheme with Diagnostics Support for Embedded SRAM Wang, Chih-Wea
 2002
 18 6 p. 637-647
 artikel
3 An Interleaving Technique for Reducing Peak Power in Multiple-Chain Scan Circuits During Test Application Kuen-Jong Lee
 2002
 18 6 p. 627-636
10 p.
 artikel
4 An Interleaving Technique for Reducing Peak Power in Multiple-Chain Scan Circuits During Test Application Lee, Kuen-Jong
 2002
 18 6 p. 627-636
 artikel
5 2002 Annual Index 2002
 18 6 p. 649-660
12 p.
 artikel
6 2002 Annual Index 2002
 18 6 p. 649-660
 artikel
7 Behavioral-Level DFT via Formal Operator Testability Measures Sandhya Seshadri
 2002
 18 6 p. 595-611
17 p.
 artikel
8 Behavioral-Level DFT via Formal Operator Testability Measures Seshadri, Sandhya
 2002
 18 6 p. 595-611
 artikel
9 Editorial Vishwani D. Agrawal
 2002
 18 6 p. 567-568
2 p.
 artikel
10 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2002
 18 6 p. 567-568
 artikel
11 Fast Anti-Random (FAR) Test Generation to Improve the Quality of Behavioral Model Verification Tom Chen
 2002
 18 6 p. 583-594
12 p.
 artikel
12 Fast Anti-Random (FAR) Test Generation to Improve the Quality of Behavioral Model Verification Chen, Tom
 2002
 18 6 p. 583-594
 artikel
13 Partial Scan Testing on the Register-Transfer Level Bruce S. Greene
 2002
 18 6 p. 613-626
14 p.
 artikel
14 Partial Scan Testing on the Register-Transfer Level Greene, Bruce S.
 2002
 18 6 p. 613-626
 artikel
15 Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits Soon-Jyh Chang
 2002
 18 6 p. 571-581
11 p.
 artikel
16 Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits Chang, Soon-Jyh
 2002
 18 6 p. 571-581
 artikel
17 Test Technology Technical Council Newsletter 2002
 18 6 p. 569-570
2 p.
 artikel
18 Test Technology Technical Council Newsletter 2002
 18 6 p. 569-570
 artikel
                             18 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland