|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Fast Anti-Random (FAR) Test Generation to Improve the Quality of Behavioral Model Verification |
| Auteur: |
Tom Chen Andre Bai Amjad Hajjar Anneliese K. Amschler Andrews C. Anderson |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 6 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2002-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |