|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
A Built-in Self-Test Scheme with Diagnostics Support for Embedded SRAM |
| Auteur: |
Wang, Chih-Wea Wu, Chi-Feng Li, Jin-Fu Wu, Cheng-Wen Teng, Tony Chiu, Kevin Lin, Hsiao-Ping |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 6 pagina's 637-647 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |