|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
A Built-in Self-Test Scheme with Diagnostics Support for Embedded SRAM |
| Auteur: |
Chih-Wea Wang Chi-Feng Wu Jin-Fu Li Cheng-Wen Wu Tony Teng Kevin Chiu Hsiao-Ping Lin |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 6 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2002-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |