Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             8 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 CMOS logic elements with increased failure resistance to single-event upsets Ol’chev, S. I.
 2011
 40 3 p. 156-169
 artikel
2 Electrothermal behavior of the elements of SOS CMOS chips Gerasimchuk, O. A.
 2011
 40 3 p. 215-224
 artikel
3 Evaluation of resistance of CMOS LSIC to the factor of absorbed dose under the pulsed radiation effect Sogoyan, A. V.
 2011
 40 3 p. 185-193
 artikel
4 Features of charge formation and relaxation in SOS structures under the effect of ionizing radiation Sogoyan, A. V.
 2011
 40 3 p. 194-208
 artikel
5 Influence of implantation of silicon and oxygen ions into a heteroepitaxial silicon layer on a sapphire substrate on the leakage currents of n-channel transistors of CMOS IC SOS technology Chistilin, A. A.
 2011
 40 3 p. 209-214
 artikel
6 Interrelation of equivalent values for linear energy transfer of heavy charged particles and the energy of focused laser radiation Chumakov, A. I.
 2011
 40 3 p. 149-155
 artikel
7 Memory-cell layout as a factor in the single-event-upset susceptibility of submicron dice CMOS SRAM Stenin, V. Ya.
 2011
 40 3 p. 170-175
 artikel
8 Modeling of recombination in SiO2 under the effect of ionizing radiation by the Monte Carlo method Polunin, V. A.
 2011
 40 3 p. 176-184
 artikel
                             8 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland