Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
 
 
  CMOS logic elements with increased failure resistance to single-event upsets
 
 
Titel: CMOS logic elements with increased failure resistance to single-event upsets
Auteur: Ol’chev, S. I.
Stenin, V. Ya.
Verschenen in: Russian microelectronics
Paginering: Jaargang 40 (2011) nr. 3 pagina's 156-169
Jaar: 2011
Inhoud:
Uitgever: SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland