Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             16 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Chaotic Negative-Resistance Oscillators with a Multibranch Piecewise-Linear CurrentVoltage Characteristic V. G. Prokopenko
2004
33 6 p. 381-389
9 p.
artikel
2 Chaotic Negative-Resistance Oscillators with a Multibranch Piecewise-Linear Current—Voltage Characteristic Prokopenko, V. G.
2004
33 6 p. 381-389
artikel
3 Delta-Doping of Monocrystalline Semiconductors by Al and Sb Implantation Using FIB Resistless Lithography V. A. Zhukov
2004
33 6 p. 362-372
11 p.
artikel
4 Delta-Doping of Monocrystalline Semiconductors by Al and Sb Implantation Using FIB Resistless Lithography Zhukov, V. A.
2004
33 6 p. 362-372
artikel
5 1D GaAs Detector Arrays for Digital X-ray Imaging V. F. Dvoryankin
2004
33 6 p. 373-376
4 p.
artikel
6 1D GaAs Detector Arrays for Digital X-ray Imaging Dvoryankin, V. F.
2004
33 6 p. 373-376
artikel
7 Methods of Multiplex Spectroscopy in the Characterization of Nanoscale Multilayers V. A. Kotenev
2004
33 6 p. 353-361
9 p.
artikel
8 Methods of Multiplex Spectroscopy in the Characterization of Nanoscale Multilayers Kotenev, V. A.
2004
33 6 p. 353-361
artikel
9 Noncontact Temperature Measurement on Dielectrics and Semiconductors, Part 1 V. K. Bitukov
2004
33 6 p. 329-341
13 p.
artikel
10 Noncontact Temperature Measurement on Dielectrics and Semiconductors, Part 1 Bitukov, V. K.
2004
33 6 p. 329-341
artikel
11 SEM Linear Measurement in a Wide Magnification Range Ch. P. Volk
2004
33 6 p. 342-349
8 p.
artikel
12 SEM Linear Measurement in a Wide Magnification Range Volk, Ch. P.
2004
33 6 p. 342-349
artikel
13 Silicon-Ingot Inspection by Active IR Imaging V. A. Yuryev
2004
33 6 p. 350-352
3 p.
artikel
14 Silicon-Ingot Inspection by Active IR Imaging Yuryev, V. A.
2004
33 6 p. 350-352
artikel
15 The Bulk-Recombination Mechanism of Negative Relative Sensitivity Observed in Bipolar Magnetotransistors R. D. Tikhonov
2004
33 6 p. 377-380
4 p.
artikel
16 The Bulk-Recombination Mechanism of Negative Relative Sensitivity Observed in Bipolar Magnetotransistors Tikhonov, R. D.
2004
33 6 p. 377-380
artikel
                             16 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland