|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Silicon-Ingot Inspection by Active IR Imaging |
| Auteur: |
Yuryev, V. A. Kalinushkin, V. P. Lytkin, A. P. Lyapunov, S. I. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 33 (2004) nr. 6 pagina's 350-352 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |