Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 An On-Chip Sensor to Monitor NBTI Effects in SRAMs Ceratti, A.
 2014
 30 2 p. 159-169
 artikel
2 An RTN Variation Tolerant SRAM Screening Test Design with Gaussian Mixtures Approximations of Long-Tail Distributions Somha, Worawit
 2014
 30 2 p. 171-181
 artikel
3 A Test Time Theorem and its Applications Venkataramani, Praveen
 2014
 30 2 p. 229-236
 artikel
4 Developing Inherently Resilient Software Against Soft-Errors Based on Algorithm Level Inherent Features Arasteh, Bahman
 2014
 30 2 p. 193-212
 artikel
5 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 2014
 30 2 p. 155-156
 artikel
6 Error Correction Schemes with Erasure Information for Fast Memories Evain, Samuel
 2014
 30 2 p. 183-192
 artikel
7 Low Cost Signal Reconstruction Based Testing of RF Components using Incoherent Undersampling Bhatta, Debesh
 2014
 30 2 p. 213-228
 artikel
8 Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements Xie, Yongle
 2014
 30 2 p. 243-249
 artikel
9 Test Data Compression for System-on-a-Chip using Count Compatible Pattern Run-Length Coding Yuan, Haiying
 2014
 30 2 p. 237-242
 artikel
10 Test Technology Newsletter 2014
 30 2 p. 157-158
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland