|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements |
| Auteur: |
Xie, Yongle Li, Xifeng Xie, Sanshan Xie, Xuan Zhou, Qizhong |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 2 pagina's 243-249 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |