|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
An On-Chip Sensor to Monitor NBTI Effects in SRAMs |
| Auteur: |
Ceratti, A. Copetti, T. Bolzani, L. Vargas, F. Fagundes, R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 2 pagina's 159-169 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |