Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             16 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Behavior Model for Next Generation Test Systems Lee A. Shombert
 1998
 13 3 p. 299-314
16 p.
 artikel
2 A Behavior Model for Next Generation Test Systems Shombert, Lee A.
 1998
 13 3 p. 299-314
 artikel
3 A Method of Formal Verification of Cryptographic Circuits Kanji Hirabayashi
 1998
 13 3 p. 321-322
2 p.
 artikel
4 A Method of Formal Verification of Cryptographic Circuits Hirabayashi, Kanji
 1998
 13 3 p. 321-322
 artikel
5 An IEEE 1149.1 Compliant Test Control Architecture Debaditya Mukherjee
 1998
 13 3 p. 273-297
25 p.
 artikel
6 An IEEE 1149.1 Compliant Test Control Architecture Mukherjee, Debaditya
 1998
 13 3 p. 273-297
 artikel
7 Editorial Vishwani D. Agrawal
 1998
 13 3 p. 219-219
1 p.
 artikel
8 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 1998
 13 3 p. 219
 artikel
9 Estimation of BIST Resources During High-Level Synthesis Ishwar Parulkar
 1998
 13 3 p. 221-237
17 p.
 artikel
10 Estimation of BIST Resources During High-Level Synthesis Parulkar, Ishwar
 1998
 13 3 p. 221-237
 artikel
11 Initialization of Sequential Circuits and its Application to ATPG Jalal A. Wehbeh
 1998
 13 3 p. 259-271
13 p.
 artikel
12 Initialization of Sequential Circuits and its Application to ATPG Wehbeh, Jalal A.
 1998
 13 3 p. 259-271
 artikel
13 Testability Enhancement for Control-Flow Intensive Behaviors Kelly A. Ockunzzi
 1998
 13 3 p. 239-257
19 p.
 artikel
14 Testability Enhancement for Control-Flow Intensive Behaviors Ockunzzi, Kelly A.
 1998
 13 3 p. 239-257
 artikel
15 Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools M. Psarakis
 1998
 13 3 p. 315-319
5 p.
 artikel
16 Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools Psarakis, M.
 1998
 13 3 p. 315-319
 artikel
                             16 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland