|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A Behavior Model for Next Generation Test Systems |
| Auteur: |
Lee A. Shombert John W. Sheppard |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 13 (1998) nr. 3 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
1998-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 16 gevonden artikelen
| volgende >> |