|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools |
| Auteur: |
M. Psarakis D. Gizopoulos A. Paschalis |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 13 (1998) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1998-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |