|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
An IEEE 1149.1 Compliant Test Control Architecture |
| Auteur: |
Debaditya Mukherjee Melvin A. Breuer |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 13 (1998) nr. 3 pagina's 25 p. |
| Jaar: |
1998-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |