Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             15 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Comparison of Hafnium Precursors for the MOCVD of HfO2 for Gate Dielectric Applications Teren, A. R.
2003
57 1 p. 1163-1173
artikel
2 Control of Crystallographic Structure of Aluminum Nitride Films Prepared by Magnetron Sputtering Leung, T. T.
2003
57 1 p. 1201-1211
artikel
3 Crystallization of Zr Based Oxide with Glass Forming Additives for Gate Dielectric Applications Kong, Seongho
2003
57 1 p. 1193-1200
artikel
4 Deposition of High-k Dielectric Oxide Films by Liquid Injection MOCVD Jones, Anthony C.
2003
57 1 p. 1271-1277
artikel
5 Growth of Hafnium Oxide Films by Metalorganic Chemical Vapor Deposition Using Oxygen-Free Hf[N(C2H5)2]4 Precursor and Their Properties Takahashi, K.
2003
57 1 p. 1185-1192
artikel
6 Guest Editorial Joshi, Vikram
2003
57 1 p. 5-7
artikel
7 Low Temperature Process for Synthesis of (100) Textured Pb(Zr0.48Ti0.52)O3 Thin Films on Si Substrate by Laser Lift-Off Transferring Technique Chu, Ying-Hao
2003
57 1 p. 1233-1240
artikel
8 MOCVD of (Ba,Sr)TiO3: Nucleation and Growth Regnery, S.
2003
57 1 p. 1175-1184
artikel
9 Organizing Committee and Sponsors 2003
57 1 p. 9-10
artikel
10 Preparation of Textured Growth Pb(Zr,Ti)O3 Thin Films on Si Substrate Using SrTiO3 as Buffer Layers Kao, Chien-Kang
2003
57 1 p. 1257-1264
artikel
11 Processing and Properties of Ferroelectric Pb(Zr,Ti)O3/Silicon Carbide Field-Effect Transistor Koo, Sang-Mo
2003
57 1 p. 1221-1231
artikel
12 PZT Based MFS Structure for FeFET Shao, Tian-Qi
2003
57 1 p. 1241-1248
artikel
13 Study of Hf—Al—O High-k Gate Dielectric Thin Films Grown on Si Lee, P. F.
2003
57 1 p. 1213-1219
artikel
14 The Characteristics of Magnesium Titanate Thin Film as Buffer Layer by Electron Beam Evaporation Lee, Choon-Ho
2003
57 1 p. 1265-1270
artikel
15 The Effects of Integration Processes on Properties of One Transistor MFMPOS Memory Devices Li, Tingkai
2003
57 1 p. 1249-1256
artikel
                             15 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland