IBL Tool - Digitale Bibliotheek

Digitale Bibliotheek

Tijdschrift beschrijving

Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift

Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang

Alle artikelen van de bijbehorende aflevering

9 gevonden resultaten

nr	titel	auteur	tijdschrift	jaar	jaarg.	afl.	pagina('s)	type
1	A model for the formation of leakage currents in the dielectrics of MOS structures under the effect of heavy charged particles	Sogoyan, A. V.		2015	44	1	p. 54-59	artikel
2	An analysis of the temperature effect on the impulse electric strength of CMOS chips	Epifantsev, K. A.		2015	44	1	p. 40-43	artikel
3	An evaluation of the sensitivity of integrated circuits to single event effects for the point charge collection area	Chumakov, A. I.		2015	44	1	p. 27-32	artikel
4	Electric regime influence on the DC-DC converters’s hardness to single event transients	Kessarinskiy, L. N.		2015	44	1	p. 44-48	artikel
5	Evaluation of sensitivity parameters for single event latchup effect in CMOS LSI ICs by pulsed laser backside irradiation tests	Pechenkin, A. A.		2015	44	1	p. 33-39	artikel
6	Function-logic simulation of the degradation of digital large-scale integrated circuits under the influence of radiation	Barbashov, V. M.		2015	44	1	p. 49-53	artikel
7	Optimization of laser irradiation parameters for simulation of a transient radiation response in thin-film silicon-based microcircuits	Skorobogatov, P. K.		2015	44	1	p. 8-21	artikel
8	Rational methodological approach to evaluation of dose resistance of CMOS microcircuits with respect to low intensity effects	Boychenko, D. V.		2015	44	1	p. 1-7	artikel
9	The impact of laser polarization direction on local dose rate effects simulation for modern integrated circuits	Skorobogatov, P. K.		2015	44	1	p. 22-26	artikel

9 gevonden resultaten

Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland