|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
An evaluation of the sensitivity of integrated circuits to single event effects for the point charge collection area |
| Auteur: |
Chumakov, A. I. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 44 (2015) nr. 1 pagina's 27-32 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |