|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Achieving sub-1.6-nm resolutions of a low-voltage microscopic focused-ion-beam system not involving aberration correction |
Zhukov, V. A. |
2008 |
37 | 2 |
p. 98-106 |
artikel |
|
| 2 | Diluted magnetic semiconductors: Actual structure and magnetic and transport properties |
Chuev, M. A. |
2008 |
37 | 2 |
p. 73-88 |
artikel |
|
| 3 | Flip-chip bump-lead fabrication: A review |
Zenin, V. V. |
2008 |
37 | 2 |
p. 107-113 |
artikel |
|
| 4 | Microwave method for SOS quality testing |
Borodovskii, P. A. |
2008 |
37 | 2 |
p. 89-97 |
artikel |
|
| 5 | New approach to the mathematical modeling of thermal regimes for electronic equipment |
Kuznetsov, G. V. |
2008 |
37 | 2 |
p. 131-138 |
artikel |
|
| 6 | Radiation effects in a BiCMOS LSI interface transceiver |
Belous, A. I. |
2008 |
37 | 2 |
p. 121-130 |
artikel |
|
| 7 | Silicon readout ICs for third-generation 2D IR focal-plane arrays operating over the wavelength range 8–12 μm |
Lee, I. I. |
2008 |
37 | 2 |
p. 114-120 |
artikel |
7 gevonden resultaten