Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             14 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 MBE-Grown GaAs Films on GaAs(111)A Substrates Misoriented toward 21¯1¯ G. B. Galiev
 2003
 32 1 p. 14-20
7 p.
 artikel
2 MBE-Grown GaAs Films on GaAs(111)A Substrates Misoriented toward [21¯1¯] Galiev, G. B.
 2003
 32 1 p. 14-20
 artikel
3 Methods for the Prediction of Total-Dose Effects on Modern Integrated Semiconductor Devices in Space: A Review V. V. Belyakov
 2003
 32 1 p. 25-39
15 p.
 artikel
4 Methods for the Prediction of Total-Dose Effects on Modern Integrated Semiconductor Devices in Space: A Review Belyakov, V. V.
 2003
 32 1 p. 25-39
 artikel
5 Modeling Molecular-Ion Implantation into Solids A. V. Chernyaev
 2003
 32 1 p. 21-25
5 p.
 artikel
6 Modeling Molecular-Ion Implantation into Solids Chernyaev, A. V.
 2003
 32 1 p. 21-25
 artikel
7 Self-aligned Technology Applied to Planar Power MOSFETs M. A. Korolev
 2003
 32 1 p. 11-13
3 p.
 artikel
8 Self-aligned Technology Applied to Planar Power MOSFETs Korolev, M. A.
 2003
 32 1 p. 11-13
 artikel
9 SOI-MOSFET Threshold-Voltage Characteristics S. M. Zakharov
 2003
 32 1 p. 1-10
10 p.
 artikel
10 SOI-MOSFET Threshold-Voltage Characteristics Zakharov, S. M.
 2003
 32 1 p. 1-10
 artikel
11 Statistical Simulation for Process Design and Optimization in IC Manufacture A. A. Kouleshoff
 2003
 32 1 p. 39-50
12 p.
 artikel
12 Statistical Simulation for Process Design and Optimization in IC Manufacture Kouleshoff, A. A.
 2003
 32 1 p. 39-50
 artikel
13 Statistical Yield Modeling for IC Manufacture: Hierarchical Fault Distributions Yu. I. Bogdanov
 2003
 32 1 p. 51-62
12 p.
 artikel
14 Statistical Yield Modeling for IC Manufacture: Hierarchical Fault Distributions Bogdanov, Yu. I.
 2003
 32 1 p. 51-62
 artikel
                             14 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland