|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Methods for the Prediction of Total-Dose Effects on Modern Integrated Semiconductor Devices in Space: A Review |
| Auteur: |
V. V. Belyakov V. S. Pershenkov G. I. Zebrev A. V. Sogoyan A. I. Chumakov A. Y. Nikiforov P. K. Skorobogatov |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 32 (2003) nr. 1 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2003-01/02-/02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |