|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
7 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | A Built-in-Self-Test Σ-Δ ADC Prototype |
Hong, Hao-Chiao |
2009 |
25 | 2-3 |
p. 145-156 |
artikel |
|
| 2 | A Built-in-Self-Test Σ-Δ ADC Prototype |
Hong, Hao-Chiao |
|
25 | 2-3 |
p. 145-156 |
artikel |
|
| 3 | A New Algorithm for the Selection of Control Cells in Boundary-Scan Interconnect Test |
Quiros-Olozabal, A. |
2008 |
25 | 2-3 |
p. 187-195 |
artikel |
|
| 4 | A Novel Fault Localization Technique Based on Deconvolution and Calibration of Power Pad Transients Signals |
Rad, Reza M. |
2008 |
25 | 2-3 |
p. 169-185 |
artikel |
|
| 5 | A SPICE-Like 2T-FLOTOX Core-Cell Model for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash |
Ginez, O. |
2008 |
25 | 2-3 |
p. 127-144 |
artikel |
|
| 6 | Soft Error Rate Reduction Using Circuit Optimization and Transient Filter Insertion |
Choudhury, Mihir R. |
2009 |
25 | 2-3 |
p. 197-207 |
artikel |
|
| 7 | Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques |
Yang, Chenglin |
2009 |
25 | 2-3 |
p. 157-168 |
artikel |
7 gevonden resultaten