|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
A New Algorithm for the Selection of Control Cells in Boundary-Scan Interconnect Test |
| Auteur: |
Quiros-Olozabal, A. Cifredo-Chacon, M. A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 25 (2008) nr. 2-3 pagina's 187-195 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |