|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques |
| Auteur: |
Yang, Chenglin Tian, Shulin Long, Bing |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 25 (2009) nr. 2-3 pagina's 157-168 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| << vorige |