|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
9 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Analysis and Test of Resistive-Open Defects in SRAM Pre-Charge Circuits |
Dilillo, Luigi |
2007 |
23 | 5 |
p. 435-444 |
artikel |
|
| 2 | A Novel EDA Tool for VLSI Test Vectors Management |
Ibrahim, Walid |
2007 |
23 | 5 |
p. 421-434 |
artikel |
|
| 3 | A System-layer Infrastructure for SoC Diagnosis |
Bernardi, P. |
2007 |
23 | 5 |
p. 389-404 |
artikel |
|
| 4 | Dynamic Fault Diagnosis of Combinational and Sequential Circuits on Reconfigurable Hardware |
Kocan, Fatih |
2007 |
23 | 5 |
p. 405-420 |
artikel |
|
| 5 | Editorial |
Agrawal, Vishwani D. |
2007 |
23 | 5 |
p. 369 |
artikel |
|
| 6 | Functional Constraints vs. Test Compression in Scan-Based Delay Testing |
Polian, Ilia |
2007 |
23 | 5 |
p. 445-455 |
artikel |
|
| 7 | Securing Scan Control in Crypto Chips |
Hély, David |
2007 |
23 | 5 |
p. 457-464 |
artikel |
|
| 8 | Test Technology Newsletter - October 2007 |
Kim, Bruce |
2007 |
23 | 5 |
p. 371-372 |
artikel |
|
| 9 | Too Few or Too Many Properties? Measure it by ATPG! |
Fummi, Franco |
2007 |
23 | 5 |
p. 373-388 |
artikel |
9 gevonden resultaten