|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis and Test of Resistive-Open Defects in SRAM Pre-Charge Circuits |
| Auteur: |
Dilillo, Luigi Girard, Patrick Pravossoudovitch, Serge Virazel, Arnaud Bastian, Magali |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 23 (2007) nr. 5 pagina's 435-444 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |