|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Functional Constraints vs. Test Compression in Scan-Based Delay Testing |
| Auteur: |
Polian, Ilia Fujiwara, Hideo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 23 (2007) nr. 5 pagina's 445-455 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |