Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             8 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Formal Approach to On-Line Monitoring of Digital VLSI Circuits: Theory, Design and Implementation Biswas, Santosh
2005
21 5 p. 503-537
artikel
2 Concurrent Error Detection in a Bit-Parallel Systolic Multiplier for Dual Basis of GF(2m) Lee, Chiou-Yng
2005
21 5 p. 539-549
artikel
3 Defect Detection Using Quiescent Signal Analysis Patel, Chintan
2005
21 5 p. 463-483
artikel
4 Editorial Agrawal, Vishwani D.
2005
21 5 p. 459
artikel
5 Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories Dilillo, Luigi
2005
21 5 p. 551-561
artikel
6 Functional Fault Equivalence and Diagnostic Test Generation in Combinational Logic Circuits Using Conventional ATPG Veneris, Andreas
2005
21 5 p. 495-502
artikel
7 Incremental Design Debugging in a Logic Synthesis Environment Veneris, Andreas
2005
21 5 p. 485-494
artikel
8 The Newsletter of Test Technology Council of the IEEE Computer Society Kim, Bruce
2005
21 5 p. 461-462
artikel
                             8 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland