|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
A Formal Approach to On-Line Monitoring of Digital VLSI Circuits: Theory, Design and Implementation |
| Auteur: |
Biswas, Santosh Mukhopadhyay, Siddhartha Patra, Amit |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 21 (2005) nr. 5 pagina's 503-537 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| volgende >> |