|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Functional Fault Equivalence and Diagnostic Test Generation in Combinational Logic Circuits Using Conventional ATPG |
| Auteur: |
Veneris, Andreas Chang, Robert Abadir, Magdy S. Seyedi, Sep |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 21 (2005) nr. 5 pagina's 495-502 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |