Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             18 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Behavioral Testability Insertion for Datapath/Controller Circuits Joan E. Carletta
 1997
 11 1 p. 9-28
20 p.
 artikel
2 Behavioral Testability Insertion for Datapath/Controller Circuits Carletta, Joan E.
 1997
 11 1 p. 9-28
 artikel
3 BIST Pattern Generators Using Addition and Subtraction Operations Albrecht P. Stroele
 1997
 11 1 p. 69-80
12 p.
 artikel
4 BIST Pattern Generators Using Addition and Subtraction Operations Stroele, Albrecht P.
 1997
 11 1 p. 69-80
 artikel
5 Classification and Test Generation for Path-Delay FaultsUsing Single Struck-at Fault Tests Marwan A. Gharaybeh
 1997
 11 1 p. 55-67
13 p.
 artikel
6 Classification and Test Generation for Path-Delay Faults Using Single Struck-at Fault Tests Gharaybeh, Marwan A.
 1997
 11 1 p. 55-67
 artikel
7 Design for Testability Using State Distances Frank F. Hsu
 1997
 11 1 p. 93-100
8 p.
 artikel
8 Design for Testability Using State Distances Hsu, Frank F.
 1997
 11 1 p. 93-100
 artikel
9 Editorial Vishwani D. Agrawal
 1997
 11 1 p. 5-5
1 p.
 artikel
10 Editorial Agrawal, Vishwani D.
 1997
 11 1 p. 5
 artikel
11 Guest Editorial K.-T. Cheng
 1997
 11 1 p. 7-8
2 p.
 artikel
12 Guest Editorial Cheng, K.-T.
 1997
 11 1 p. 7-8
 artikel
13 Improving Testability of Non-Scan Designs during BehavioralSynthesis M.L. Flottes
 1997
 11 1 p. 29-42
14 p.
 artikel
14 Improving Testability of Non-Scan Designs during Behavioral Synthesis Flottes, M.L.
 1997
 11 1 p. 29-42
 artikel
15 Resynthesis of Combinational Circuits for Path Count Reduction and for Path Delay Fault Testability Angela Krsti
 1997
 11 1 p. 43-54
12 p.
 artikel
16 Resynthesis of Combinational Circuits for Path Count Reduction and for Path Delay Fault Testability Krstić, Angela
 1997
 11 1 p. 43-54
 artikel
17 Synthesis of Sequential Circuits by Redundancy Removal and Retiming Hiroyuki Yotsuyanagi
 1997
 11 1 p. 81-92
12 p.
 artikel
18 Synthesis of Sequential Circuits by Redundancy Removal and Retiming Yotsuyanagi, Hiroyuki
 1997
 11 1 p. 81-92
 artikel
                             18 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland