|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Classification and Test Generation for Path-Delay FaultsUsing Single Struck-at Fault Tests |
| Auteur: |
Marwan A. Gharaybeh Michael L. Bushnell Vishwani D. Agrawal |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 11 (1997) nr. 1 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1997-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |