|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Classification and Test Generation for Path-Delay Faults Using Single Struck-at Fault Tests |
| Auteur: |
Gharaybeh, Marwan A. Bushnell, Michael L. Agrawal, Vishwani D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 11 (1997) nr. 1 pagina's 55-67 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |