|
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
3 gevonden resultaten
| nr | titel | auteur | tijdschrift | jaar | jaarg. | afl. | pagina('s) | type |
| 1 | Characterization of plasmonic effects in thin films and metamaterials using spectroscopic ellipsometry |
Oates, T.W.H. |
2011 |
86 | 11-12 |
p. 328-376 49 p. |
artikel |
|
| 2 | Nanometer interface and materials control for multilayer EUV-optical applications |
Louis, E. |
2011 |
86 | 11-12 |
p. 255-294 40 p. |
artikel |
|
| 3 | The epitaxial crystalline silicon-oxynitride layer on SiC(0001): Formation of an ideal SiC–insulator interface |
Tochihara, Hiroshi |
2011 |
86 | 11-12 |
p. 295-327 33 p. |
artikel |
3 gevonden resultaten