Digitale Bibliotheek
Sluiten
Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
Zoeken naar
Tijdschrift
Artikel
ISSN
NBN artikel
NBN tijdschrift
DARE/NARCIS document
met titel:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
10 gevonden resultaten
nr
titel
auteur
tijdschrift
jaar
jaarg.
afl.
pagina('s)
type
1
A machine learning approach to accelerate reliability prediction in nanowire FETs from self-heating perspective
Kumar, T. Sandeep
161
C
p.
artikel
2
Comparing structures of two-dimensional error correction codes
Muniz, Adahil
161
C
p.
artikel
3
Durability distribution prediction of thermo-mechanical solder fatigue failure with uncertainty propagation by eigenvector dimension reduction method
Huang, Chien-Ming
161
C
p.
artikel
4
Editorial Board
161
C
p.
artikel
5
Effect of solder junction void variation in power semiconductor package on power cycle lifetime
Onodera, Hiroshi
161
C
p.
artikel
6
Enhancing flexible electronics: Unveiling the role of strain rate in the performance of molybdenum-coated PET films
Alkhazali, Atif
161
C
p.
artikel
7
Revisiting the effectiveness of diamond heat spreaders on multi-finger gate GaN HEMT using chip-to-package-level thermal simulation
Mohamad Yussof, Amir Murtadha
161
C
p.
artikel
8
Thermal cycling characterization of an integrated low-inductance GaN eHEMT power module
Sun, Zhongchao
161
C
p.
artikel
9
Thermo-mechanical reliability of glass substrate and Through Glass Vias (TGV): A comprehensive review
Lai, Yangyang
161
C
p.
artikel
10
The sensitivity analysis of geometric parameters on the power cycling reliability of bond wires
Xie, Luhong
161
C
p.
artikel
10 gevonden resultaten
Koninklijke Bibliotheek -
Nationale Bibliotheek van Nederland