|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
A machine learning approach to accelerate reliability prediction in nanowire FETs from self-heating perspective |
| Auteur: |
Kumar, T. Sandeep Hazarika, Anusha Srinivas, P.S.T.N. Tiwari, Pramod Kumar Kumar, Arun |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 161 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |