Digitale Bibliotheek
Sluiten
Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
Zoeken naar
Tijdschrift
Artikel
ISSN
NBN artikel
NBN tijdschrift
DARE/NARCIS document
met titel:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
10 gevonden resultaten
nr
titel
auteur
tijdschrift
jaar
jaarg.
afl.
pagina('s)
type
1
A highly reliable radiation tolerant 13T SRAM cell for deep space applications
Yekula, Ravi Teja
133
C
p.
artikel
2
A Π-shaped p-GaN HEMT for reliable enhancement mode operation
Sehra, Khushwant
133
C
p.
artikel
3
Degradation of 650 V SiC double-trench MOSFETs under repetitive overcurrent switching stress
Wang, Lihao
133
C
p.
artikel
4
Determining adhesion of critical interfaces in microelectronics – A reverse Finite Element Modelling approach based on nanoindentation
Reuther, G.M.
133
C
p.
artikel
5
Double-node-upset aware SRAM bit-cell for aerospace applications
Prasad, Govind
133
C
p.
artikel
6
Editorial Board
133
C
p.
artikel
7
Electroplated Ni-P film for power devices without cracks induced by high temperature heating
Fujimori, Yuji
133
C
p.
artikel
8
Ionizing radiation response of bismuth titanate-based metal-ferroelectric-semiconductor (MFS) type capacitor
Kaymaz, Ahmet
133
C
p.
artikel
9
Towards electro-thermo-mechanical lifetime assessment for arbitrary power electronics
Gschwandl, Mario
133
C
p.
artikel
10
Vulnerability evaluation on 16 nm FinFET Ultrascale+ MPSoC using fault injection and proton irradiation
Li, Yonghong
133
C
p.
artikel
10 gevonden resultaten
Koninklijke Bibliotheek -
Nationale Bibliotheek van Nederland