|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Vulnerability evaluation on 16 nm FinFET Ultrascale+ MPSoC using fault injection and proton irradiation |
| Auteur: |
Li, Yonghong Yang, Weitao Wang, Maocheng Li, Yang Guo, Yaxin Li, Pei Zhao, Haoyu He, Chaohui Wang, Di Yang, Ye Zhang, Xiaodong An, Heng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 133 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| << vorige |