Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
Zoeken naar met titel:
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ

     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             10 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 Characterization of trap density in Indium-Gallium-Zinc-Oxide thin films by admittance measurements in multi-finger MOS structures Tang, Hongwei
214 C p.
 artikel
2 Comprehensive evaluation of gate-induced drain leakage in SOI stacked nanowire nMOSFETs operating in high-temperatures de Souza, Michelly
214 C p.
 artikel
3 Deep spiking neural networks with integrate and fire neuron using steep switching device Yun Woo, Sung
214 C p.
 artikel
4 Editorial Board
214 C p.
 artikel
5 Experimental study of time-dependent dielectric degradation by means of random telegraph noise spectroscopy Saini, Nishant
214 C p.
 artikel
6 First-principles screening for sustainable OTS materials Clima, S.
214 C p.
 artikel
7 Hot-carrier induced degradation of Ge/STI interfaces in Ge-on-Si junction devices Musibau, Solomon
214 C p.
 artikel
8 Impact of passivation layer on the subthreshold behavior of p-type CuO accumulation-mode thin-film transistors Chen, Qi
214 C p.
 artikel
9 Influence of gate-source/drain overlap on FeFETs Kim, Changha
214 C p.
 artikel
10 Preconditioning of Ohmic p-GaN power HEMT for reproducible Vth measurements Ghizzo, L.
214 C p.
 artikel
                             10 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland