|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of trap density in Indium-Gallium-Zinc-Oxide thin films by admittance measurements in multi-finger MOS structures |
| Auteur: |
Tang, Hongwei Belmonte, Attilio Lin, Dennis Afanas'ev, Valeri Verdonck, Patrick Chasin, Adrian Dekkers, Harold Delhougne, Romain Van Houdt, Jan Sankar Kar, Gouri |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 214 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
| volgende >> |