|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural properties of relaxed Ge buffer layers on Si(0 0 1): effect of layer thickness and low temperature Si initial buffer |
| Auteur: |
T. Myrberg A. P. Jacob O. Nur M. Friesel M. Willander C. J. Patel Y. Campidelli C. Hernandez O. Kermarrec D. Bensahel |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 15 (2004) nr. 7 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2004-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |