|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural properties of relaxed Ge buffer layers on Si(0 0 1): effect of layer thickness and low temperature Si initial buffer |
| Auteur: |
Myrberg, T. Jacob, A. P. Nur, O. Friesel, M. Willander, M. Patel, C. J. Campidelli, Y. Hernandez, C. Kermarrec, O. Bensahel, D. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 15 (2004) nr. 7 pagina's 411-417 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |