|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Built-In Self-Test Design for the 3D-Stacked Wide-I/O DRAM |
| Auteur: |
Luo, Kun-Lun Wu, Ming-Hsueh Hsu, Chun-Lung Chen, Chen-An |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 32 (2016) nr. 2 pagina's 111-123 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |