|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Design and Temperature Reliability Testing for A 0.6–2.14GHz Broadband Power Amplifier |
| Auteur: |
Lin, Qian Cheng, Qian-Fu Gu, Jun-jie Zhu, Yuanyuan Chen, Chao Fu, Hai-peng |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 32 (2016) nr. 2 pagina's 235-240 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |