|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A 10-Transistor 65 nm SRAM Cell Tolerant to Single-Event Upsets |
| Auteur: |
Li, Yuanqing Li, Lixiang Ma, Yuan Chen, Li Liu, Rui Wang, Haibin Wu, Qiong Newton, Michael Chen, Mo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 32 (2016) nr. 2 pagina's 137-145 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |